近壁探头系列
● 首晶片边缘和末晶片边缘到外壳外侧距离均为1毫米

● 性能特点:
   1、 在声学上与Rexolite匹配
   2、两端具有较小的盲区
   3、结合编码器进行C扫成像非常适用于检测复合材料的分层、脱粘以及多孔性
产品参数






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