2026年3月25日至27日，多浦乐携先进的半导体无损检测解决方案亮相2026慕尼黑上海电子生产设备展。作为电子制造行业的重要展示交流平台，本届展会汇聚了全球前沿技术与创新产品。

展会期间，多浦乐首次展出了自主研发的超声波扫描显微镜，吸引了众多专业观众驻足关注。其中，超声显微镜400系列凭借出色的检测性能、精良的工业设计以及卓越的性价比，赢得了现场嘉宾的高度赞美，不少客户当场表达了送样检测的意向。

多浦乐超声显微镜

       Doppler Eagle 400系列 超声显微镜配备了先进的筛选功能，能够高效准确地定位并锁定待检测区域，极大地提升了检测效率与准确性。同时实现了智能计算与智能识别缺陷，快速自动抓取各种潜在的缺陷类型，如裂纹、夹杂物、孔隙等，为质量控制和故障预防提供了强有力的支持。

超声显微镜软件特点：

1、扫描模式：

● 点扫描(A-Scan)；

● 水平切片扫描(C-Scan)；

● X轴/Y轴纵向切片扫描(B-Scan/D-Scan)；

● 单层/逐层聚焦水平切片扫描(X-Scan/Z-Scan)；

● 多区域扫描(Multi Region-Scan)分频扫描(FIR scan)等；

2、透射扫查：

基于波的传播时间和衰减程度，快速呈现检测对象内部的形态及缺陷分布;

3、自动对焦：

自动控制Z轴水距对齐探头焦距，得到最佳成像清晰度;

4、托盘扫描：

可自定义托盘数量和尺寸，并提供图像自动分割、空盘识别跳过等功能，用于批量检测工件,提高工作效率;

5、分频扫查：

对A扫描信号进行频域转换，可将一个频率探头分割为多种频率段同时检测，进而筛选出成像最清晰的频率段，可大大降低不同频率探头的购买成本;

6、厚度成像：

通过测量超声在材料中的传播时间，把每个位置的厚度变化直接显示成图像，可直观显示局部变薄、凹陷或翘曲等问题；

7、图像输出：

最大图像分辨率:65535x65535 像素，支持Tiff、BMP、PNG 等格式(Tiff 格式能同时保存扫描参数，方便下一次扫描时调用);

8、表面跟踪扫描：

可消除或减弱工件翘曲、表面凹坑、刻字等情况对超声成像的干扰；

超声显微镜检测效果：

1、晶圆：

2、IGBT:

3、液冷散热器 Heatsink：

4、芯片：

5、陶瓷覆铜板 AMB/DBC：

6、多层陶瓷电容 MLCC：

多浦乐展位

       感谢新老客户莅临多浦乐展位并给予高度评价。未来，多浦乐将持续加大在半导体无损检测设备领域的研发投入，不断创新与升级迭代，推出更多优质设备，助力我国半导体产业高质量发展。